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深圳市迪福伦斯科技有限公司

SigOFIT 光隔离探头 OIP500B(电池供电)500MHz

SigOFIT 光隔离探头 OIP500B(电池供电)500MHz

带宽:500MHz 共模电压: 85kVpk 直流增益精度:1% 共模抑制比:高达180dB

最真实的信号呈现

SigOFIT光隔离探头具有极高的共模抑制比,在100MHz时CMRR高达128dB、在500MHz时CMRR仍然高达114dB,是判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判。

极高的测试精度与稳定性

作为判定其他电压探头所测信号真实性的终极裁判,测试精度是SigOFIT光隔离探头的重要指标。SigOFIT光隔离探头,具有极佳的幅频特性,直流增益精度优于1%,底噪小于1.46mVrms,预热后零点漂移小于500μV。 

第三代半导体的最佳测试手段

第三代半导体器件由于导通与关断时间很短,信号具有更快的上升沿和下降沿,信号中具有很高能量的高频谐波,SigOFIT光隔离探头在最高带宽时,仍然具有超100dB的共模抑制比,可以近乎完美地抑制高频共模噪声所产生的震荡,所呈现的信号没有额外多余成分,是第三代半导体测试的不二之选。

测试氮化镓(GaN)不炸管

SigOFIT光隔离探头测试引线短且采用同轴传输,探头输入电容低至2.6pF,测试氮化镓(GaN)十分安全。

型号 OIP100B OIP200B OIP500B
带宽 100MHz 200MHz 500MHz
上升时间 ≤3.5ns ≤1.75ns ≤700ps
共模抑制比 DC: 180dB
100MHz: 128dB
DC: 180dB
200MHz: 122dB
DC: 180dB
500MHz: 114dB
差模电压 ±5000V
底噪 <1.46mVrms
直流增益精度 1%
共模电压 85kVpk

电源设备评估、电流并联测量、EMI 和 ESD 故障排除

电机驱动设计、功率转换器设计 、电子镇流器设计

氮化镓、碳化硅、IGBT半/全桥设备的设计与分析

高压高带宽测试应用的安全隔离测试

逆变器、UPS及开关电源的测试

宽电压、宽带测试应用

各种浮地测试